Лабораторные XRF-спектрометры для измерения толщины покрытий

XRF-спектрометры для измерения толщины покрытий в лаборатории

Спектрометр для измерения толщины покрытий — это специализированный аналитический прибор, предназначенный для неразрушающего контроля толщины и элементного состава однослойных, многослойных и сплавных покрытий на различных подложках.
В отличие от универсальных рентгенофлуоресцентных спектрометров, решающих широкий круг аналитических задач, данный тип оборудования оптимизирован для прецизионного измерения толщины гальванических, химических и других покрытий — от десятков нанометров до десятков микрометров.

В основе работы прибора лежит энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный метод.
Рентгеновская трубка генерирует первичное излучение, которое направляется на образец.
Атомы элементов, входящих в состав покрытия и подложки, испускают характеристическое вторичное излучение.
Интенсивность сигнала от элементов покрытия возрастает с увеличением его толщины, а сигнал от элементов подложки, напротив, ослабевает.
Специализированное программное обеспечение по этим данным рассчитывает толщину и элементный состав покрытия.

Ключевые особенности конструкции:
• рентгеновская трубка с микрофокусным анодом (обычно W, Rh, Mo) для формирования тонкого пучка излучения
• высокоразрешающий кремниевый дрейфовый детектор (SDD) для регистрации характеристического излучения
• система коллиматоров (пользовательская регулировка размера пятна от 100 мкм до 1,5 мм и менее) для анализа микронных участков
• моторизированный программируемый XYZ-столик для автоматического позиционирования и многогочечного анализа
• видеомикроскоп с многозонной LED-подсветкой для точного наведения на точку измерения
• программное обеспечение для расчёта толщины по фундаментальным параметрам и построения калибровок
• автоматическая измерительная камера, защищающая оператора от рентгеновского излучения
• измерительная платформа для образцов различной геометрии (печатные платы, электронные компоненты, соединители, ювелирные изделия и т. д.)

Основное назначение XRF-спектрометра для измерения толщины покрытий — контроль качества и технологических процессов нанесения покрытий. Неразрушающий метод контроля позволяет проводить измерения непосредственно на готовых изделиях без их повреждения.

Оборудование позволяет:
• измерять толщину однослойных и многослойных покрытий (до 5 слоёв и более)
• определять толщину и элементный состав покрытий одновременно
• анализировать покрытия толщиной от 10 нм и менее
• контролировать содержание элементов в гальванических ваннах
• проводить автоматические измерения на больших партиях изделий
• соответствовать отраслевым стандартам (ASTM B568, DIN/ISO 3497)

XRF-спектрометры для измерения толщины покрытий применяются в широком спектре отраслей:
• электронная промышленность и производство печатных плат — контроль толщины покрытий Au, Ni, Sn, Ag, Pd на контактных площадках, разъёмах и выводах микросхем
• гальваническое производство — контроль толщины гальванических покрытий (цинк, никель, хром, медь, олово, золото, серебро)
• ювелирная промышленность и пробирный контроль — анализ содержания драгоценных металлов (Au, Pt, Pd, Rh, Ag) и толщины покрытий на ювелирных изделиях
• автомобильная промышленность — контроль качества покрытий на деталях, защитные и декоративные покрытия
• полупроводниковая промышленность — измерение сверхтонких покрытий на полупроводниковых пластинах
• энергетика и электротехника — контроль контактных покрытий и защитных слоёв на электротехнических изделиях
• банковское дело и скупка драгоценных металлов — определение пробы и состава изделий
• контроль качества продукции — обеспечение соответствия покрытий требованиям стандартов и спецификаций
• научные исследования — изучение свойств тонких плёнок, анализ межслойной диффузии, исследования в области коррозии и трибологии

XRF-спектрометры для измерения толщины покрытий являются незаменимым инструментом для широкого спектра исследовательских и контрольных задач:
• измерение толщины однослойных покрытий — определение толщины стандартных покрытий (Au на Cu, Ni на стали, Zn на стали и т. д.)
• измерение толщины многослойных покрытий — анализ двух-, трёх- и более слоёв покрытий на различных подложках
• анализ сплавных покрытий — определение толщины и состава покрытий из сплавов (AuNi, ZnNi, SnAgCu и др.)
• измерение сверхтонких покрытий (нанометрового диапазона) — контроль покрытий толщиной < 0,05 мкм
• анализ элементного состава покрытий — определение содержания легирующих элементов в покрытиях
• контроль гальванических ванн — анализ состава электролитов для поддержания технологического процесса
• анализ толщины и состава покрытий на микроучастках — исследование локальных участков размером до 50 мкм и менее
• картирование распределения толщины и состава — построение карт распределения параметров покрытия по поверхности образца

Покупая лабораторные рентгенофлуоресцентные спектрометры (XRF) для измерения толщины покрытий импортного и российского производства у дилера в России, компании «Лабораторное оснащение», вы получаете: гибкие условия поставок, доставку во все регионы России, гарантию производителя, сервис и обслуживание, подбор аналогов, комплектующих и самые лучшие цены!