Лабораторные лазерные микроскопы

Лазерные микроскопы для лабораторий

Современный лазерный сканирующий микроскоп прошел долгий путь от своих ранних предшественников, которые занимали целый лабораторный стол. Последние модели достаточно компактны, они меньше, чем мониторы, обычно используемые для визуализации. Базовый блок, называемый «сканирующей головкой», содержит модуль лазерного сканирования. Большинство систем имеют как лазерный сканирующий световой путь, так и светодиодный световой путь белого света, что позволяет получать лазерные изображения высокого разрешения при съемке полноцветных изображений поверхности. Чтобы улучшить боковое разрешение поверхности, лазер обычно имеет более низкие длины волны, около 405-408 нм, но для поддержания конкурентоспособной цены системы используется недорогой диодный лазер.

В прошлом в глубоких ультрафиолетовых (DUV) микроскопах использовались длины волн 248 нм, чтобы получить такое же поперечное разрешение, которое обеспечивают новые лазерные сканирующие микроскопы. Такая низкая длина волны требовала двух функций: во-первых, очень дорогая линза объектива для коррекции низкой длины волны; и, во-вторых, специализированная аналоговая камера для получения изображений той же длины волны.

Это привело к созданию дорогостоящей микроскопической системы с увеличением, ограниченным 1000х. Другим недостатком является то, что DUV-микроскопы не имеют возможности для трехмерной визуализации топографии поверхности.

В лазерном сканирующем микроскопе используется сканирующая конструкция, называемая «сканирование лучом», в которой траектория лазерного изображения сканируется растровым рисунком на поверхности образца. Этот метод захватывает изображение поверхности и позволяет управлять увеличением, уменьшая область сканирования до меньших размеров, таким образом увеличивая увеличение без потери разрешения. Для создания сканирования используются различные сканирующие зеркала, в том числе акустооптические дефлекторы (AOD), многоугольные зеркала и резонансные гальванические зеркала.

Гальванические зеркала помогают максимально увеличить поле зрения изображения. Эти зеркала также поддерживают относительно большие углы колебаний, что улучшает меньшее увеличение больших полей зрения. Поскольку его скорость определяется механической резонансной частотой, этот механизм ограничен по скорости по сравнению с другими механизмами сканирования. Тем не мение, разработаные зеркала, изготовленные с использованием технологии микроэлектромеханической системы (MEMS), позволяют уменьшить размер устройства. MEMS сканеры представляют собой сочетание подвижной пластины, торсиона, и опорной рамы. Подвижная пластина имеет катушки, управляемые магнитной цепью. Двумерное сканирование может быть выполнено с использованием высокоскоростного сканирующего механизма и совмещения его с относительно низкоскоростным сканирующим механизмом в направлении Y. Нерезонансное гальваническое зеркало часто используется в механизме сканирования в направлении Y, частично для удобства.

После того, как лазер сканируется зеркалами, он направляется через траекторию изображения и объектив. Затем он возвращается по оптическому пути, чтобы пройти через конфокальную точечную скважину. Этот метод улучшает отношение сигнал/шум, удаляя любой несфокусированный сигнал, позволяя проходить только точкам света только в наиболее сфокусированных точках. Сфокусированный свет направляется на фотоумножитель для цифровой передачи значений интенсивности на усилитель.

Лазерные сканирующие микроскопы являются важным решением, обеспечивающим возможности обнаружения с высоким разрешением и точные повторяемые измерения.

Покупая лабораторные лазерные микроскопы у дилера в России, компании «Лабораторное оснащение», вы получаете: гибкие условия поставок, доставку во все регионы России, гарантию производителя, сервис и обслуживание, подбор аналогов, комплектующих и самые лучшие цены!